Webinar EPC – Understanding Why GaN is More Robust than Silicon Power MOSFETs

Join the webinar to discover the critical aspects of GaN power device reliability and how testing gallium nitride devices to failure demonstrates robustness unmatched by silicon power MOSFETs.

Quando: 10:00 AM Pacific Daylight Time; 19,00 ora italiana

Durata stimata: 60 minuti

Lingua Inglese

EPC: sito del Costruttore

Per informazioni ed iscrizioni: m.tognella@melchioni.it